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DSC-ISS-Calibration : ISS-1-75-250,ISS-2-300-600,ISS-3-650-1250 NEW

Supported Calibration Methods SOLT/TRL(공통)
Probe Configuration GSG(공통)
Supported Probe Pitch 75~250μm(미세) /300~600μm(중형) /600~1250μm(대형)
Material & Design Alumina/ Coplanar(공통)
Typical Load Trimming Accuracy Error ± 0.3 %(공통)

DSC-ISS-Calibration ISS-1-75-250.png


1. DSC-ISS-Calibration ISS-1-75-250

[주요 특징 / Key Features]

 - 범용성 높은 교정 방식 지원: RF 정밀 측정에 필수적인 SOLT 및 TRL 캘리브레이션 완벽 지원

 - 다양한 피치 대응: 75μm~250μm 범위의 폭넓은 프로브 피치(Pitch) 호환 (총 24개 SOLT 표준 그룹 제공) 

 - GSG 프로브 최적화: 표준 GSG(Ground-Signal-Ground) 프로브 구성에 맞춘 정밀 설계

 - 뛰어난 정밀도: 명목 임피던스 50Ω, 로드 트리밍 오차 ± 0.3 % 이내의 극대화된 정확도

 - 고품질 소재 적용: 고주파 특성이 우수한 Alumina 기판 및 Coplanar 디자인 채택

 - 크기 및 두께: 20X20mm (두께 : 635μm)


DSC-ISS-Calibration ISS-2-300-600.png


2. DSC-ISS-Calibration ISS-2-300-600

[주요 특징 / Key Features]

 - 중대형 피치 대응: 300μm~ 600μm 범위의 넓은 프로브 피치(Pitch)에 최적화 (총 11개 SOLT 표준 그룹 제공)

 - 범용성 높은 교정 방식 지원: RF 정밀 측정에 필수적인 SOLT 및 TRL 캘리브레이션 완벽 지원

 - GSG 프로브 최적화: 표준 GSG(Ground-Signal-Ground) 프로브 구성에 맞춘 정밀 설계

 - 뛰어난 정밀도: 명목 임피던스 50Ω, 로드 트리밍 오차 ± 0.3 %이내의 극대화된 정확도

 - 고품질 소재 적용: 고주파 특성이 우수한 Alumina 기판 및 Coplanar 디자인 채택

 - 크기 및 두께: 20 X 20mm(두께: 635μm)



DSC-ISS-Calibration ISS-3-650-1250.png

  • 3. DSC-ISS-Calibration ISS-3-650-1250

  •  - 대형 피치 라인업 최적화: 600μm~1,250μm범위의 넓은 프로브 피치(Pitch) 및 대형 패드 교정에 완벽 대응 (총 9개 SOLT 표준 그룹 제공)

  •  - 범용성 높은 교정 방식 지원: RF 정밀 측정에 필수적인 SOLT 및 TRL 캘리브레이션 완벽 지원

  •  - GSG 프로브 최적화: 표준 GSG(Ground-Signal-Ground) 프로브 구성에 맞춘 정밀 설계

  •  - 뛰어난 정밀도: 명목 임피던스 50Ω, 로드 트리밍 오차 ± 0.3 %이내의 극대화된 정확도

  •  - 고품질 소재 적용: 고주파 특성이 우수한 Alumina 기판 및 Coplanar 디자인 채택

  •  - 크기 및 두께:  20 X 20mm(두께: 635μm)




    • 차이점
    사양 (Specification)1번 모델 (ISS-1-75-250)2번 모델 (ISS-2-300-600)3번 모델 (ISS-3-650-1250)
    지원 프로브 피치 (Pitch)

    75μm~ 250μm


    (미세 피치)

    300μm~600μm


    (중형 피치)

    600μm~1,250μm


    (대형 피치)

    SOLT 표준 그룹 수24개11개9개
    주요 용도초미세 패드 및 고집적 칩 테스트용일반적인 패드 및 RF 모듈 테스트용파워 소자, 대형 패드 및 패키지 테스트용

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