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세부사항
수동 스테이지 구동, 자유로운 스코프 이동, 빠른 리프트 기능을 제공하며, CCD 비전 시스템 옵션과 다양한 프로브 카드 호환성을 지원합니다.
Failure Analysis, IV/CV 파라메트릭 측정, RF/Microwave, MEMs, Bio 등 다양한 응용 분야에서 활용 가능한 범용성과 안정성을 갖춘 장비입니다.
주요 특징 (Features)
Manual Stage Drive Mode : 직관적인 수동 스테이지 구동 방식
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Compact Benchtop Size : 연구실/개인용 테스트 환경에 적합한 소형 설계
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Wafer Compatibility : 4 ~ 6 inch 웨이퍼 지원
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Precision Construction : Cross Roller Bearing Way 적용으로 2.5㎛ ~ 3.5㎛ 정밀도 확보
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Probe Card Holder : 다양한 프로브 카드 호환 가능
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CCD Vision System (Option) : 이미지 캡처 및 비전 시스템 선택 가능
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Space Efficiency : Compact & Small Footprint 구조
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Durability : Anodized Structure & Permanently Panelized Stage 적용
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Free Movement of Scope-head : 자유로운 관찰을 위한 스코프 헤드 이동
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Microscope Travel Range : ±1.0’ 라벨, 1.0’ 현미경 이동 범위
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Fast Lift Mechanism : 측면 레버로 신속한 리프트 조작
주요 장점 (Benefits)
Compact Design & Stability : 작은 사이즈지만 견고한 그라운드 플래튼으로 안정성 확보
High Speed, Easy Setup : 빠르고 간단한 설치 및 구동
Flexibility for Engineers : 다양한 엔지니어 수요에 맞춘 부분적 수정/개발 가능
Versatile Measurement : 반도체 소자 IV/CV 파라메트릭 측정 지원
Advanced Engineering Support : Failure Analysis / Design / Debug / Product Engineering에 최적화
Specialized Probing : 동축(Coaxial) 홀더 및 저누설(Triaxial Low Leakage) 프로빙 옵션
Broad Application : DC / FA / CV / Microwave / RF / MIC / MEMs / Bio 분야 활용 가능
